Quins microscopis electrònics mèdics utilitzen segells de goma?
Els segells de goma es poden utilitzar en els següents tipus de microscopis electrònics mèdics:
Microscòpia electrònica de transmissió (TEM)
Ubicació de la cambra de mostra: la cambra de mostra ha de mantenir un entorn de buit elevat per garantir que el feix d'electrons pugui passar a través de la mostra sense problemes sense ser molestat per les molècules de gas. Els segells de goma es poden utilitzar a la unió de la porta o la tapa de la cambra de mostra amb l'estructura principal per garantir un segellat hermètic i evitar que l'aire exterior entri a la cambra de la mostra. Per exemple, quan s'insereix o s'elimina una mostra, el segell de goma pot encaixar perfectament al voltant de la interfície entre la porta i la cambra de mostra quan la porta de la cambra de mostra està tancada, mantenint l'estat de buit de la cambra de mostra.
La connexió entre el canó d'electrons i el canó de la lent: el canó d'electrons és un component clau per generar el feix d'electrons, i el feix d'electrons emès ha d'entrar amb precisió al canó de la lent per a l'enfocament i la imatge posteriors. A la posició de connexió entre el canó d'electrons i el canó de la lent, es pot configurar un segell de goma per evitar que la pols o les impureses externes entrin al canó de la lent i afectin la qualitat del feix d'electrons, d'altra banda, també ajuda a mantenir el estabilitat de la pressió de l'aire dins de tot el cos de la lent i garanteix el funcionament normal del microscopi electrònic.
Microscòpia electrònica d'escaneig (SEM)
Parts relacionades amb la cambra de buit: els microscopis electrònics d'escaneig també han de funcionar en un entorn de buit i es poden utilitzar segells de goma entre les interfícies, les portes o les parts obertes de la cambra de buit i l'estructura principal. Per exemple, quan s'ha d'obrir la porta d'una cambra de buit durant la substitució de mostres o el manteniment rutinari, els segells de goma poden garantir l'estanquitat de la cambra quan la porta està tancada de manera que l'estat de buit es pugui restaurar ràpidament, reduint el temps i l'energia. consum d'aspiració.
Interfície del detector: el detector és un component important utilitzat per rebre senyals electrònics reflectits o dispersos des de la superfície de la mostra. Els segells de goma es poden utilitzar a la interfície de connexió entre el detector i el cos del microscopi, cosa que no només pot evitar que els senyals externs interfereixin amb el funcionament normal del detector, sinó que també garanteixen l'estanquitat de la connexió per evitar que la pols o altres impureses entrin i afectant la sensibilitat i precisió del detector.
Microscòpia confocal
Ubicació del dispositiu d'ajust del camí òptic: el dispositiu d'ajust del camí òptic d'un microscopi confocal sovint requereix un ajust precís per obtenir una imatge 3D clara. Els segells de goma es poden utilitzar en algunes parts ajustables, com ara el rail mòbil de la lent o la connexió de la part giratòria amb el cos del microscopi, per reduir la fricció mecànica i el desgast alhora que evita que la pols entri al sistema de camí òptic i afecti la qualitat de la imatge.
Connexions de la carcassa de l'instrument: per protegir l'òptica i l'electrònica a l'interior, la carcassa del microscopi confocal ha d'estar tancada hermèticament. A les parts d'empalmament o obertura i tancament de la carcassa, el segell de goma pot jugar el paper de segellat i amortiment, evitant que la pols i la humitat entrin a l'instrument i també reduint l'impacte de la vibració externa a l'instrument.